|
|
|
-
Рефрактометр Schmidt + Haensch ATR-P, диапазон измерений 1.33200-1.54000 RI/0-100% Брикс, разрешение 0.00001 RI/0.01% Брикс, точность ±0.02% Брикс
-
Арт.
12148
Schmidt + Haensch
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Рефрактометр Schmidt + Haensch DHR-FR1, диапазон измерений 0 - 85% Брикс, разрешение 0.01 % Брикс
-
Арт.
12050
Schmidt + Haensch
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Рефрактометр Schmidt + Haensch DSR - λ, диапазон измерений 1,33200-1,70000 RI, 7 длин волн, разрешение RI 0.00001и 0.01°C, точность RI ± 0.0001
-
Арт.
01140
Schmidt + Haensch
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS KSW5000
-
Арт.
KSW5000
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS KSW5000-T
-
Арт.
KSW5000-T
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS KSW5000-T-K-W
-
Арт.
KSW5000-T-K-W
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS KSW8000
-
Арт.
KSW8000
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS MSZ5000
-
Арт.
MSZ5000
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS MSZ5000-IL-TL
-
Арт.
MSZ5000-IL-TL
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|
|
|
|
-
Стерео-зум микроскоп KRÜSS MSZ5000-RL
-
Арт.
MSZ5000-T-RL
KRÜSS
|
шт |
|
Цена по запросу
|